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Nikon C2激光共聚焦顯微鏡

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實驗室的顯微設備C2+共聚焦顯微鏡系統是Nikon新研發的共聚焦系列儀器中的其中之一,是必要的實驗室顯微鏡研究工具

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實驗室的顯微設備

C2+共聚焦顯微鏡系統是Nikon新研發的共聚焦系列儀器中的其中之一,是必要的實驗室顯微鏡研究工具。由于產品具有非常高的穩定性、操作簡易,且有*的光學性能和高速圖像采集能力(掃描速度可達100幀/秒,512X32像素下)。 C2+可作為出色研究工具,或將已有的尼康顯微鏡升級為C2+共聚焦系統。

配置Ni-E正置顯微鏡

特點:

圖像質量

Nikon 優秀的光學組件和久經考驗的高效光學設計可在最遠的工作距離下,提供更明亮與清晰的圖像。

高效掃描頭和檢測器

具備方便小巧的掃描頭, 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與優質圓形光學針孔,分離式檢測有效隔離熱原同噪音,可獲取低噪音、高對比度與高品質的共聚焦圖像。新開發的掃描驅動系統和Nikon的圖像校正技術,允許8/秒(512 × 512像素)和100/秒(512 × 32 像素)的速度掃描,以獲取更明亮與更清晰的圖像

高性能光學鏡頭

CFI復消色差λS系列

此系列高數值孔徑(NA)物鏡為共聚焦拍攝的理想之選,其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40xWI物鏡色差校正可達紅外范圍。使用Nikon的納米晶體涂層技術可有效增加光線透過率。

CFI Apochromat 40xWI λS, NA1.25 ();CFI Apochromat LWD 40xWI λS, NA1.15 ();CFI Apochromat 60x Oil λS, NA1.4 ()

CFI復消色差TIRF 系列

此系列物鏡的NA值為1.49 (使用標準的蓋玻片和浸油),在Nikon物鏡中具備的分辨率。配備溫度校正環可在23°C37°C溫度范圍對圖像質量進行校正。

CFI Apochromat TIRF 60x oil, NA1.49 (左);CFI Apochromat TIRF 100x oil, NA1.49 (右)

高清晰度的透射微分干涉對比(DIC)圖像

C2+能同時獲得三個通道的熒光,或同時實現三通道熒光與透射微分干涉(DIC)的觀察。高品質DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進行形態分析。

DIC圖像 DIC+熒光圖像

高功能

高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數據。此外,NIS-Element 可實現Nikon 顯微鏡和其他第三方外設,如EMCCD相機和濾光輪的直接操作,使其可適用于各類實驗應用。

多種拍攝模式

單一軟件包即可提供各種成像方法,如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化,并同時具有圖像的處理、分析和呈現的功能。用戶可在統一的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統。

易于辨識的激光與探測器設置 掃描闡述設置

靈活性

C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯合使用,且可以與各種高質量研究試驗系統聯合使用。可用NIS-Element 軟件控制所有的尼康顯微鏡系統。

TIRF/光活化-C2+多模式成像系統

可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊,實現高S/N比單分子成像,并捕捉光活化與光轉化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。

AZ-C2+宏觀共聚焦系統

在高清晰度的大視野下,超過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像,如胚胎,單次拍照,高達2048×2048像素分辨率,并可使用C2si+獲得32通道光譜數據。可將低倍率與高倍率物鏡,光學變焦和共焦掃描變焦功能相結合,從宏觀到微觀連續成像。


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