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Q-300 三維電子散斑ESPI系統

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用于零部件的三維高靈敏度位移/變形和應變分析

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       用于零部件的三維高靈敏度位移/變形和應變分析。適用于任何材料,且不必做標記。是對解析計算和數值計算結果進行實驗驗證的技術。測試的三維信息可用于快速測定材料特性。電子結構、汽車設計、機械制造和復雜的材料、零件及結構的試驗和研發。在拉伸試驗、斷裂力學、彎曲試驗、雙軸試驗、蠕變研究、熱膨脹和其它更多的領域應用廣泛。

 特 點:

  • 全場的三維定量分析,靈活方便的模塊化設計

  • 廣泛的應用領域,具有全場、非接觸式的特點,可測量任何材料

  • 高精度,系統測量可達亞微米精度

  • 具有多種規格的適配器,該裝置可將傳感器轉接在任意平面和曲面上

  • 測量靈敏度:0.03~0.1 μ可調

  • 測量范圍:根據測量方向的改變而變化,每次 10~100 μ的變化量

  • 測量面積:使用外部激光時,可以達到 200 x300 mm2

  • 操作模式:手/自動模式;維、維、維操作模式

  • 數據獲取速度:使用 維操作模式時,3.5 秒即可得到

  • 照明基本距離:最短 120 mm

  • 工作距離:0.2~1.0 m


Q-300 三維電子散斑ESPI系統(圖1)Q-300 三維電子散斑ESPI系統.pdf


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