SP-601型方形四探針探頭SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻
SP-601型方形四探針探頭 | ||||||||||
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SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 | ||||||||||
◆ 特性及規格: | ||||||||||
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◆ SP-601型方形四探針探頭規格: | ||||||||||
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