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ST-20型方塊電阻測試儀

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ST-20型方塊電阻測試儀ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻

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ST-20
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特點
1
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定
2
低功耗
3
采用單個電池供電,帶電池欠壓指示
4
儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm
5
特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
探頭帶抗靜電模塊
◆ 技術指標:
測量范圍
基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規格
探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
測量過程誤差:≤±0.8%
電源
9V疊層電池1節


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