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QNIX4200P 分體涂層測(cè)厚儀

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QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。★南京南拓檢測(cè)儀器有限公司德國尼克斯測(cè)厚儀Qnix公司代理商,主要代理型號(hào)有Qnix4200p、QNIX4500尼克斯鍍層測(cè)厚儀、Qnix1200、QNIX1500涂層測(cè)厚儀、Qnix7500/8500型涂層測(cè)厚儀,只需調(diào)零、無需校準(zhǔn)。: ,

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QNix® 4200P

      

 QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。
 QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。
在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix4200P(分體式)機(jī),探頭和主機(jī)之間通過一根探頭線連接起來,可以滿足特定測(cè)量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測(cè)量更方便,使用更人性化,性價(jià)比更高
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
分體化設(shè)計(jì),滿足不同環(huán)境的測(cè)量
只需調(diào)零,無需校準(zhǔn) 
體積小巧,操作方便 
精度高 
價(jià)格便宜

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
磁性基體(Fe模式)
QNix4200P有此功能
測(cè)量范圍
Fe:0-3000um
顯示精度
0.1um
精度
0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤±3%讀數(shù)
小接觸面
10×10mm
小曲率半徑
凸面:3mm
凹面:25mm
小基體厚度
Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍
0-60℃
顯示
LCD液晶(帶背光)
探頭
紅寶石固定式
電源
2×1.5V干電池
尺寸
100×60×27mm
重量
110g


德國QNIX公司相關(guān)型號(hào)












                  測(cè)量范圍:0-2000微米、0-5000微米,探頭:一體探頭、分體探頭。 任意組合,一機(jī)多用。

                 測(cè)量范圍:0-500微米,0-2000微米、0-5000微米,探頭:無線探頭、一體探頭、分體探頭。
                 任意組合,一機(jī)多用,增加無線探頭功能,



QNix® 4200P SONDEN

Sonde Messbereich Substrat Abweichung
QNix® 4200 3 mm 3000 µm Fe +/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm 5000 µm Fe 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) 
?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)
Kleinste Messfl?che Kleinster Krümmungsradius Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm Konvex: 5 mm 
?Konkav: 5 mm
200 µm

      




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