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XULM-XYM 膜厚儀

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FISCHERSCOPE-X-RAYXULM是一款應用廣泛的能量色散型x射線光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用

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FISCHERSCOPE®-X-RAY  XULM是一款應用廣泛的能量色散型x射線光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。

 比例接收器能實現高計數率,,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了菲希爾的基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

 XULM型X射線光譜儀有著出色長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器了。本款儀器特別適合在質保、來料檢驗和過程控制等領域中使用,


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