主要規格

規格描述

X射線激發系統

垂直上照式X射線光學系統

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統

最多可同時裝配6種規格的準直器

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結構

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－樣品臺尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－XY軸程控移動范圍

標準：152.4 x 177.8mm

還有5種規格任選

300mm x 300mm

－Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時，152.4mm

XY軸手動時，269.2mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統

高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。

激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計算機系統配置

IBM計算機

彩色噴墨打印機

分析應用軟件

操作系統：Windows2000中文平臺

分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。

－基本分析功能

采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，

材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

－調整和校正功能

系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移

－測量自動化功能

鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”

多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式

測量位置預覽功能

激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能

設定測量點

連續多點測量

測量位置預覽(圖表顯示)