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非接觸式膜厚測量儀EA-160

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非接觸式膜厚測量儀EA-160產品描述:◆高速度、高精度測量系統◆160mm×160mm范圍測量◆透明材質穿透測量◆測量膜厚、線寬、平面度等◆多程序自由切換

詳細信息 在線詢價

非接觸式膜厚測量儀 EA-160 





產品描述:

◆高速度、高精度測量系統


◆160mm×160mm范圍測量  


◆透明材質穿透測量  


◆測量膜厚、線寬、平面度等 

 

◆多程序自由切換,方便靈活



技術: 

◆采用白光共焦技術,分辨率達到5nm,量程13mm 

◆0-160mm運動精度達到微米級,X、Y方向無機械接觸,采用全閉環反饋系統,實現高精度測量 

◆高精度、高分辨率CCD系統,結合effecttek軟體算法,支持影像定位輔助系統 


應用: 

◆厚膜電路測量


◆晶圓涂膠測量 


◆LTCC膜厚、線寬測量 


◆MEMS測量 


◆透明材質測量 


太陽能面板測量 



設備技術參數:

項     目

技術參數

外觀尺寸

950mm*650mm*500mm

XY測量行程

160mm*160mm

Z軸可調行程

50mm

有效測量范圍

130mm*130mm

掃描最小步距

1um

掃描速度

30mm/s

測試重復精度

20nm(標樣)

電     源

AC220V±10%,50-60 Hz



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