Tecnai G2 F20是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的200kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等）方便靈活地有機組合, 形成強大的分析功能, 而在同類型儀器中*。任務(wù)導(dǎo)向型用戶界面和自動采集數(shù)據(jù)功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結(jié)果的壓力中解放出來, 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“*一體化”概念允許在不同的操作模式和數(shù)據(jù)采集技術(shù)之間快速切換, 切換過程中系統(tǒng)自動調(diào)回所有相關(guān)的操作設(shè)置。
Tecnai G2 F20以您實驗室的現(xiàn)狀而構(gòu)建: 具有各種分析要求的、不同應(yīng)用水平的操作者都要在上面工作。同時, 這一TEM/STEM系統(tǒng)已經(jīng)為明天做好準備, 它可以用新的功能進行升級, 以保證方便快速地進行更*的數(shù)據(jù)采集。 Tecnai G2 F20為通用納米分析技術(shù)透射電鏡平臺的設(shè)立了一個標準。




1.高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米分析
2.所有的*分析技術(shù)集成于一體: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、電子衍射、EFTEM、EDS和EELS頻譜圖、全息技術(shù)和Lorentz透鏡技術(shù)、三維重構(gòu)技術(shù)、低劑量曝光技術(shù)、冷凍電鏡技術(shù)
3.多用戶環(huán)境下的方便和安全操作
4.適用于大量樣品的快捷分析
5.將來技術(shù), 今日應(yīng)用
6.基于Windows XP操作系統(tǒng)的用戶界面

參數(shù)：

1.信息分辨率極限
　　U-TWIN 0.12nm;
　　S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm ; TWIN
2.點分辨率
　　U-TWIN 0.19nm ;
　　S-TWIN 0.24nm ;
　　X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm
3.高分辨STEM分辨率
　　U-TWIN 0.14nm ;
　　S-TWIN 0.19nm ;
　　X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm
4.加速電壓 20-200kV,連續(xù)可調(diào)
5.電子束能量色散 <0.7eV
6.zui大束流 >100nA. 1nm束斑zui大束流>0.5nA.
7.樣品zui大傾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°
　Tomography樣品桿 +/- 70o
8.EDS立體角
　　X-TWIN 0.3sr
　　S-TWIN/U-TWIN 0.13sr