一、儀器的用途
透反射熱臺偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子等專業的專業實驗儀器。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。
專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子材料學而研制。觀察高聚物熔融和結晶過程中的形態,結晶速率及動力學計算；觀察雙折射體的光學效應；微生物形貌觀察；組織細胞核、壁形態觀察；地質材料偏光形態觀察；無機晶體材料觀察,特別對含有結晶體的材料進行熱性能變化的研究更為重要。
二、技術參數 1．目鏡
| 類別 | 放大倍數 | 視場(mm) |
| 大視野目鏡 | 10X | φ18 |
| 分劃目鏡 | 10X | φ18 |
2．物鏡
| 類別 | 放大倍數 | 數值孔徑(NA) | 蓋玻片厚 |
無應力平場
消色差物鏡 | 5X | 0.12 | - |
| 10X | 0.25 | - |
| 40X | 0.65 | - |
| 60X | 0.85 | - |
3.光學放大倍數：50X--600X
4.目鏡管：轉軸式（傾斜30°），內置檢偏器,可自由切換正常觀察與偏光觀察,推入式
勃氏鏡,中心可調,λ補償器,λ/4 補償器,石英鍥補償器
5.透射照明：6V 20W鹵素燈,亮度可調,起偏器可360°旋轉有0、90、180、270四個讀數
反射照明: 6V 20W鹵素燈,亮度可調, 起偏器可旋轉；
6.載物臺：機械式附加旋轉臺面 尺寸 φ100mm， 360°旋轉
7.調焦機構：粗微動同軸，齒輪轉動 , 帶限位及調節松緊機構
8.聚光鏡：阿貝聚光鏡NA1.25，升降上下可調
9.防霉系統:防霉
10.成像系統:配置日本JVC高像素CCD,像素達47萬；
11.高精熔點測定儀(具體參數見熔點儀資料)
①精密溫度控制儀顯示窗口由上下二排四組數子及文字（英文）組成。
上排：溫度測量顯示組，下排 ：溫度設定顯示組. 數顯方式:整數顯示
②恒溫范圍：室溫---400℃, 恒溫精度：全范圍≤±0.5℅, 恒溫系統波動度：±1℃
如作熔點測量,則只能間接測量;必須通過標準物質熔點校正得到修正值后,再進行測量.
此儀器只能測量相對溫度,不能測量溫度; 儀器顯示溫度不等于物質的實際溫度.
③溫度速度：可設置升溫速度范圍(可調)：0.5---36秒/℃
升溫速度：室溫---100℃≤40秒
最慢升溫速度達36秒/℃,達400℃時間：240分鐘
即刻恒溫響應時間：≤0.01秒
④熱臺尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高溫區: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤熱臺的外體與高溫度采用三根陶瓷分開隔熱;在中心溫度400℃,室溫25℃時,熱臺外
體溫度≤70℃,熱臺載物重量：200克
⑥熱臺傳感器:高精度的雙傳感器,連接熱臺與溫控儀
三、系統組成 電腦型 (XPR-700V)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器 4.A/D(圖像采集) 5.N型熱臺
數碼型 (XPR-700D)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機 4.N型熱臺
四、總放大參考倍數 XPR-700V型：50--3400倍 XPR-700D型：50--2000倍
五、選購件 1．目鏡：16X(Φ11mm) 2．物鏡：20X 50X 80X 100X
3．移動尺(30X25mm) 4．圖像測量軟件
