LW108JSZ精密測量顯微鏡一．產品簡介LW108JSZ測量顯微鏡

LW108JSZ精密測量顯微鏡

一． 產品簡介

  LW108JSZ測量顯微鏡，通過搭配無限遠光學顯微鏡系統、照明裝置及對不同的升降機構和對焦機構的選擇，可以組成多款不同功能的顯微鏡機型;本款產品結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能，是同時具有高精度線性測量和觀察的多功能量測儀器;可廣泛應用 于半導體、PCB、LCD、手機產業鏈、光電通訊、基礎電子、模具五金、、汽車行業、計量行業等領域的檢測；通過選購可以具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。

二．產品特點

1. 采用優異的無限遠光學系統，提高成像襯度和清晰度，用戶可以得到鮮明、清晰的高對比度圖像，通過選購可實現明暗場，偏光，微分干涉等多種成像;

2. 模塊化設計，國際NK經典機身設計，可按需加裝不同鏡頭組及照明系統;

3. 擁有*的光學性能和超高測量精度，搭配主體的操作平衡性，讓之前不可見或幾乎不可見的物件如今不僅能觀察，還能被測量;

4.適合高性能零件、電子組件的測量;

5. 可輕易測量易碎工件及具有極小細節的工件!

6.快速釋放裝置便于測量大工件或多個數量工件時快速移動工作臺，Z軸兩側均配備同軸粗/微調手輪，確保能以速度實現高精度對焦。

7.照明系統：LED光源長壽命，快速響應及非常低的熱輻射，由于熱漂移導致的對焦不準得到顯著改善。

三．技術規格

1. 光學系統：無限遠光學系統

2. 觀察頭：30°傾斜，正像，無限遠鉸鏈三通觀察筒，瞳距調節 :50-76mm；帶有標準相機接口;十字線; 光路徑轉換(觀測/相機 =0/100)

3. 觀測方法：明場、簡易偏光觀測

4. 大視野平場目鏡： PL10X/22mm，視度可調，可帶測微尺

5. 無限遠長工作距平場物鏡：5×、10×、20×、50×

6. 轉換器：內定五孔轉換器

7. 調焦系統：粗微調同軸，左右手柄（粗調：40mm/圈、微調：0.02mm/圈）

8. 測量行程（X、Y、Z）：150×100×150mm

9. 測量精度（X 、 Y、Z） ：（2.5+0.02L)μm，L 為測量長度（單位 ：mm）

10. 數顯分辨率： 0.0002mm（進口金屬光柵）

11. 儀器的回程誤差：0.002mm

12. 照明系統：明場反射照明器：帶濾色片與偏光裝置插槽，帶 5WLED 燈源，亮度可調透射照明裝置：綠色LED平行光源，垂直光。

13. 測量軟件

①　輔助對焦，十字線采點

②　元素測量與預制：點、線、圓、弧、槽、橢圓、矩形、圓環、云線、角度、焦面;

③　元素構造:中心點、交點、中點、線、園、角度、距離、云線等的構造;

④　圖形處理:坐標平移、工件擺正、任意軸擺正，坐標系重置圓形縮放、圖形平移、圖形選中及刪除等多種處理，測量更方便更快捷，提高測量效率;

⑤　測量方法多樣（自動尋邊、對比測量、局部放大采點），可以滿足用戶不同需求，大大提高使用的方便性和測量精度;

⑥　專業統計分析工具，分析圖形有平均數全距管制圖、直放圖、CPK偏移圖，利用數據統計原理,  有效控制生產，不斷改進品質;

⑦　測量數據直接發送到AutoCAD中，測量的圖形可以用dxf文檔保存,也可發送到Excel中進行統計分析

⑧　計錄用戶程序、編輯命令、教導執行;

⑨　支持雙顯示器和多種語言界面的切換;

⑩　用戶可根據測量精度需求選擇多點測量,規定點數測量,放大采點構造,對比方波進行工件測量;

?　軟件帶有系統誤差修正功能。目前可對坐標定位系統誤差和垂直度系統誤差進行補償。對坐標定位系統誤差的補償，有線性補償和區段補償兩種方法可供選用。

四．配置清單

1. 顯微鏡主機/1臺

2. 平場目鏡PL10X/1對

3. 物鏡5x、10x、20x、50x/各1只

4. 垂直照明器/1臺（在主機上）

5. 手動移動平臺/1只（在主機上）

6. 高精度光柵尺/1套（在主機上）

7. 數顯表/1只  （在主機上）

8. 數字工業攝像頭/1只

9. 測量軟件/1套

10. 聯想計算機/1臺

11. 產品合格證、保修卡及說明書/1份