LD-1536x-B01 LD TO老化測試系統是獨立提供”每顆”待測組件電流及電壓源
LD-1536x-B01 LD TO老化測試系統是獨立提供”每顆”待測組件電流及電壓源。
具有以下優點:
1. 系統均溫度性穩定，機臺的均溫性< +/-2℃。
2. 實時偵測并記錄每顆待測組件是否有”確實”進行老化測試流程, 以利后續追蹤。
3. 與自動盤測機之測試板兼容共享。
系統外觀 :
1. 烘箱 (深x 寬x 高=135x175x220cm)
2. PC x 1
系統輸出入電源 :
1. AC 220/1ψ/30A/50Hz 電源輸入(烘箱)
2. AC 220/1ψ/20A/50Hz 電源輸入(控制器)
3. AC 220/1ψ/10A/50Hz 電源輸入(PC)
系統功能 :
1. 烘箱可設定范圍 ~150℃,溫度均勻性+/-2℃
2. 可實時監測 Im & Vop, 以確定各通道確實執行預燒
3. 實時監測 Im & Vop 快速曲線顯示
4. 每一通道各別均可通過背光 Im 掃描精準量取Ith
系統條件 :
1. 各信道雷射輸出電流 200mA±2%
2. 提供 iPD 電壓源偏壓5~15V+/-5%
系統組成配件 :
1. 高溫烘箱 * 1
2. 前后機架 * 1
3. 控制背板 * 24
4. 計算機 * 1
5. 屏幕 * 1
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