X射線熒光（XRF）分析技術以一定能量的光子、電子、質子、α粒子或其他重離子的射線照射樣品，從樣品原子中激發出特征X射線，通過對特征X射線的探測實現對樣品的定性定量分析

X射線熒光（XRF）分析技術以一定能量的光子、電子、質子、α粒子或其他重離子的射線照射樣品，從樣品原子中激發出特征X射線，通過對特征X射線的探測實現對樣品的定性定量分析。XRF分析方法制樣簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內，可直接用于原位和現場在線分析，在地質、材料、環境、冶金、考古和太空探索等領域占有重要地位。

 性能特點

XRF分析方法簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內，可直接用于原位和現場在線分析，在地質、材料、環境、冶金、考古和太空探索等領域占有重要地位。

應用領域

    ◆地質勘探

    ◆環境調查

    ◆材料科學

    ◆生命科學

    ◆歷史考古

    ◆工業過程控制

    ◆固廢資源回收

原理：

利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待分析樣品中的原子，使之產生X熒光（次級X射線）通過測量這些X熒光的能量（或波長）和強度來分析樣品中元素成分的種類和含量。