FEIScios是一款高分辨率DualBeam分析系統，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供二維和三維性能
FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系統，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供二維和三維性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府和工業研究環境中的納米量級研究與分析。
FEI Scios核心技術。透鏡內FEI Trinity能夠同時收集所有信號，既節省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
生命科學應用
有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應用且不會降低對比度和分辨率的多功能設備。FEI Scios是一款易于使用的儀器，能使您的眾多不同應用和工作流更具靈活性，功能更強大，而且借助高效和增值工作流， Scios能讓您在短時間內獲得準確的結果。
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