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簡要描述： ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統(tǒng)，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現(xiàn)材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發(fā)揮作用，如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發(fā)光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜測量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統(tǒng)自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數(shù)，調(diào)整樣品位置即可。系統(tǒng)也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。
產(chǎn)品介紹：
ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統(tǒng)，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現(xiàn)材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發(fā)揮作用，如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發(fā)光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統(tǒng)自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數(shù)，調(diào)整樣品位置即可。系統(tǒng)也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。
功能描述：
1、全角度測量：接收端0-360度，發(fā)射端0-270度
2、高角度分辨率：分辨率達0.01°；
3、全光譜測量：光譜范圍250-2500nm，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀；
4、不同測量模式：可以實現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種模式；
5、自動測量模式：通過軟件設置（測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時間等），實現(xiàn)不同模式的自動測量，中間不需人為干預；
6、手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角進行光譜測量；
7、靈活的光源選擇：自帶鎢燈光源和外接光源；
8、可擴展：可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等不改變光路的光學器件；
應用領域
微納光學
材料學
生物技術
礦物分析
防偽
LED光源
液晶顯示
材料鍍膜等
不同角度的反射率譜線
測量模式
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| 反射測量（上反射/下反射）模式 | 透射測量模式 |
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| 散射/熒光測量模式 | 輻射測量模式 |
參數(shù)指標
| 參數(shù)/型號 | ProSp-RTM-UV | ProSp-RTM-VIS |
| 光譜范圍 | 250-2500nm | 250-2500nm |
| 光源 | 選配，SMA905光纖接口 | 內(nèi)置鎢燈光源（360-2500nm）可外接其它光源 |
| 光斑大小 | 可調(diào)，最小1.5mm | 可調(diào)，最小1.5mm |
| 入射光發(fā)散角 | <1.5° | <1.5° |
| 入射角范圍 | 0-270° | 0-350° |
| 接收角范圍 | 0-360° | 0-360° |
| 角度分辨率 | 0.1° | 0.1° |
| 樣品臺 | 三維調(diào)節(jié) | 三維調(diào)節(jié) |
| 濾波片架 | 包含2個濾波片架，分別在于入射和接收光路上，可以放置直徑12.7mm | |
| 旋轉(zhuǎn)偏振片架 | 選配 | |
選配產(chǎn)品
| 光譜儀 | |
| USB2000+VIS-NIR-ES | 350-1000nm |
| QEPRO-FL | 350-1000nm |
| NIRQUEST512-2.5 | 900-2500nm |
| 光源 | |
| DH-2000-BAL | 220-2500nm |
| HL-2000-LL | 360-2500nm |
| 偏振片 | |
| PLine-VIS-A | 400-700nm |
| PLine-VIS-B | 600-1100nm |
| PLine-VIS-NIR | 650-2000nm |
| PLine-NIR-A | 1050-1700nm |
| PLine-NIR-B | 1000-3000nm |
可定制顯微光譜角分辨系統(tǒng)
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