U-SMPS1700掃描電遷移率粒徑譜儀德國Palas（帕剌斯）中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司通用掃描遷移率粒度儀
U-SMPS 1700 掃描電遷移率粒徑譜儀 德國Palas（帕剌斯）中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司
通用掃描遷移率粒度儀，適用于 2 – 400 nm 的高濃度
應用領域：
過濾器測試
氣溶膠研究
吸入實驗
工作場所測量
優點：
| • 2至400 nm粒徑分布 • 連續和快速掃描的測量原理 • 高分辨率，多達128個分類器/衰減 • 適用于高達10^8顆粒/立方厘米的濃度 • 通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器 • 圖形顯示測量值 • 直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI • 集成數據記錄儀 • 支持多種接口和遠程訪問 • 低維護 • 功能可靠 • 減少您的運營費用 |
| 測量范圍（尺寸） | 2 – 400 nm |
|---|---|
| 尺寸通道 | 高達256（128 /衰減） |
| 測量范圍（濃度數據） | 0-10^8個顆粒/立方厘米 |
| 用戶界面 | 觸摸屏，800•480像素，7英寸 |
| 數據記錄儀存儲 | 4 GB |
| 軟件 | PD分析 |
| 調整范圍（電壓) | 1 – 10,000 V |
| 體積流量（鞘空氣） | 2.5 – 14升/分鐘 |
| 安裝條件 | +5 – +40 °C（控制單元） |
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內的精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非常快速的測量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發生器的下游）。可以通過物理參數直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執行單粒子分布掃描，或者在多達128個尺寸通道中執行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統計和平均值計算）和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計算機或網絡。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并在內部組裝。
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