產品介紹DT系列熱像儀綜合測試系統是專業的熱像儀綜合測試系統，廣泛應用于實驗室/倉庫環境下監測型熱像儀的拓展測試
DT系列熱像儀綜合測試系統是專業的熱像儀綜合測試系統，廣泛應用于實驗室/倉庫環境下監測型熱像儀的拓展測試。通過搭載不同的配置，DT測試系統也可進行VIS-NIR相機的標準測試，以及熱像儀與VIS-NIR相機之間的校軸。DT測試系統可以測試市面上幾乎所有監視型熱像儀，DT測試系統是Inframet所有產品中歡迎的，在數百個實驗室中使用，其中包括一些制造商。
DT測試系統原理框圖
DT系統是專門優化的用于在實驗室或軍械庫等條件下對紅外熱成像系統進行全面測量的設備。通過添加選項DT系統也可以全面測量電視(TV)和微光電視(LLLTV) 相機的性能參數以及熱像儀、電視相機的多軸對準。
DT 測量系統是一個可變換一系列不同靶標的投影系統。它把靶標圖像投射到被測試熱像儀的視場中，熱像儀就會產生一個靶標圖像，通過評估熱像儀產生的靶標圖像的質量，就能夠得到被測試熱像儀的重要性能參數。不同的靶標用于評估不同的參數。熱像儀的不同性能參數通常由TAS軟件給出。
DT系統具有模塊化結構，可以針對不同的熱像儀進行優化：從短距離的紅外熱像儀到長焦距偵察型熱像儀。
| 測量功能： | ||
ü 最小可分辨溫差MRTD | ü MTF | ü 信號傳遞函數SiTF |
ü NETD | ü 固定模式噪聲FPN | ü 不均勻性non-uniformity |
ü 視場FOV | ü 畸變distortion | ü 放大倍率magnification |
ü 響應函數Response function | ü 3D Noise | ü 壞點Bad pixels |
ü 點能見度因子PVF ü 信噪比SNR ü 三角方向鑒別TOD ü 噪聲等效光通量密度NEFD | ü 狹縫響應函數SRF ü 最小可探測溫差MDTD ü 噪聲等效反射率NER ü 噪聲等效功率NEP | ü 非周期傳遞函數ATF ü 自動測量MRTD ü 噪聲等效照度NEI ü 比探測率D* |
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | |
編號 | 光管 | 圖像采集卡 | 熱像儀測試范圍 | 光源 | 光強范圍 | 可見-近紅外相機測試范圍 | 相機核心測試 | 校軸 | 模擬距離 | 評估軟件 |
A | 基礎精度 | 無 | MRTD | 無 | 無 | 無 | 無 | 無 | 無限遠 | 無 |
B | 高精度 | 模擬視頻采集卡(PAL/NTSC) | MRTD,MTF, SiTF, NETD,FPN, 非均勻性,FOV | 基礎的光譜未調節白光LED光源 | 70 cd/m2 | 在規定照度條件下測量分辨率 | 用于熱成像儀 | 參考光軸 | 手動調節距離 | Simterm |
C | 精度 | 增加一個數字視頻采集卡（客戶自選） | MRTD,MTF,SiTF, NETD,FPN,非均勻性,FOV,畸變,放大率 | 改進的白光LED光源，光譜波段450-700nm | 白天：0.2 到2000cd/m2 | 分辨率、MTF、靈敏度、NEI(噪聲等效照度)、SiTF、FOV | 用于可見-近紅外相機 | 參考光軸和機械軸(平面) | 計算機超精確調節模擬距離 | Mosot |
D | 增加兩個數字視頻采集卡 | C新增：響應函數,3D噪聲,NPSD,壞點,PVF,SRF,ATF,SNR,MDTD,autoMRTD | 準均勻光譜的LED光源，400-850nm波段 | 夜晚：0.0001到10 cd/m2 | MRC，分辨率，MTF，靈敏度，NEI(噪聲等效照度)，SiTF, FOV | 用于熱像儀/可見-近紅外相機 | Mosot,Movis | |||
E | 客戶自定視頻采集卡組 | 增加：TOD,NER,NEI,NEFD,NEP,D* | 寬帶鹵素光源,色溫光譜2856K,400-1000nm波段 | 日/夜：0.0001到 | 增加:3D噪聲、均勻性、放大、NPSD、差像素、失真、信噪比、響應函數 | Simterm,Mosot,Movis |
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