日立X射線熒光光譜儀 X-Strata 920
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- 公司名稱 中山利豐精密測量儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 中山市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/1/30 15:26:37
- 訪問次數(shù) 82
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X射線熒光分析的優(yōu)點:●最少或無需樣品制備●無損分析●可測元素范圍廣:Ti22toU92●可分析固體和溶液●分析快速:幾秒內(nèi)得到結(jié)果●定性、半定量和全定量分析●操作容易,只需要簡單培訓詳細參數(shù)請咨詢客服!利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制
X射線熒光分析的優(yōu)點:
●最少或無需樣品制備
●無損分析
●可測元素范圍廣:Ti22 to U92
●可分析固體和溶液
●分析快速:幾秒內(nèi)得到結(jié)果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易,只需要簡單培訓 詳細參數(shù) 請咨詢客服!*您想獲取產(chǎn)品的資料:
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