激光二極管測試系統激光二極管/LEDLIV(光強-電流-電壓)測試系統該款激光二極管和LED光電特性的測量系統，可以測試無論是封裝形式還是裸芯片

激光二極管測試系統

激光二極管/LED LIV(光強-電流-電壓)測試系統

該款激光二極管和 LED 光電特性的測量系統，可以測試無論是封裝形式還是裸芯片。這些儀器可在短的時間內完成完整的 LIV 測量，實現高效生產

激光二極管/LED LIV(光強-電流-電壓)測試系統 產品特點

該款產品采用數字可編程模擬終端級來實現靈活和準確的電流控制。產品提供多種電流匹配，從 250mA，到1200A。可定制支持其他范圍電流需求！

產品提供脈沖系統，脈沖持續時間為 150ns 至 2000µs。快速上升時間版本擁有 50ns 的上升和下降時間（在 60A 時）——實現基本無過載。

這種的功能允許在芯片級或條級對高功率二極管激光器進行準確測試，而不會對被測設備產生過度的熱負載。

系統也提供CW/QCW 測試，具有大量包括老化測試在內的各種功能測試

系統都通過 USB 端口進行控制以進行自動測量。從控制計算機上傳參數集。在啟動命令之后， 然后自主地執行完整的測量序列。

激光二極管/LED LIV(光強-電流-電壓)測試系統 應用領域

應用包括在子安裝或包裝之前和之后的激光二極管表征、進貨檢查和原始設備制造商。快速數據采集提供了高生產效率。系統通過定制帶狀線或接觸卡配置服務支持該產品。

激光二極管/LED LIV(光強-電流-電壓)測試系統工作原理

系統都通過 USB 端口進行控制以進行自動測量。從控制計算機上傳參數集。在啟動命令之后，LIV 然后自主地執行完整的測量序列。快速數據采集提供了高測量速度。

僅在脈沖模式下測量的產品型號：

Pulsed LIV mode

該模式沖（或步長）寬度和脈沖間隔以恒定電流運行驅動器。在這種模式下測量每個脈沖的激光功率。示意圖如下： 

Pulsed burst mode

此模式可用于檢查設備上的熱接觸，也可以在一定時間內產生光以進行其他測量，例如smile、近場/遠場模式或光譜，產品通過定制帶狀線或接觸卡配置服務支持該產品。

軟脈沖測試：