（1）GGB射頻/微波探針
（2）可以提供普通款和無磁款（適用在磁場中）
（3）具體指標參數：?測試頻率直流到40GHZ?輸入衰減小于0.8db?反射損耗大于18db?腳間距可以從25到2540微米（腳間距越大，損耗越嚴重）?測試重復性優于-80db
（4）配合射頻探針臺使用，測試樣品的S11和S21參數。
（5）深圳工廠常年備有庫存，常用型號一般有現貨。

GGB射頻/微波探針

產品特點：

（1）美國GGB原廠

（2）可以提供普通款和無磁款（適用在磁場中）

（3）深圳工廠常年備有庫存，常用型號一般有現貨

（4）詳細指標：

測試頻率范圍：  DC to 40 GHz

輸入衰減  ≤ 0.8db

反射損耗≧ 18 db

腳間距:25 to 2540um可選（腳間距越大 ， 損耗越嚴重）

測試重復性優于-80db

單獨彈簧加載觸點設計

材質：  BeCu , Tungsten or Nickel tips available

GSG ， SG ， SG ， GSGSG 等可選

同軸設計

（5）選型規則

Example：   40A-GSG-150-P 代表頻率到 40G ， GSG 三個端口 ， 其中 G 與 S 之間的腳間距是 150um ， 外形是 P 型。

Model 40- （端口）  - （間距）  -（外形），其中，外形可選。

GGB射頻/微波探針

優測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導體和自動化設備綜合解決方案的自主創新型技術企業。我們集研發、生產、銷售和服務于一體，不僅擁有*的生產設備、加工工藝及品質檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學、微電子、機械等專業的技術團隊。現在主營的產品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業的設計人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態熒光壽命成像系統、太陽能發生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規探針臺功能上進行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。