SS445系統是專門為大屏幕投影顯示測量而設計一款產品，適用于所有投影技術，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計算機控制的Pan & Tilt定位系統，從而移動到所需的測試點，配置的140萬像素CCD相機，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進行測量，從而更好地表征用戶體驗。
投影顯示光色性能分析儀-投影儀光學測試系統-影院光色分析系統-SS445 產品描述：
投影顯示光色性能分析儀-投影儀光學測試系統-影院光色分析系統-SS445 是Microvison 專門為大屏幕投影顯示測量而設計一款產品，適用于所有投影技術，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計算機控制的Pan & Tilt定位系統，從而移動到所需的測試點，配置的140萬像素CCD相機，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進行測量，從而更好地表征用戶體驗。
工作原理：
Microvision SS445是專門為大屏幕顯示器設計的顯示測量系統。這包括采用任何現有投影引擎技術的，直至劇院大小的投影顯示器。該系統使用電動平移和傾斜機構移動到所需的測試位置。該系統可以配置有1.4MP CCD相機和/或衍射光柵光譜儀。在操作過程中，系統位于待測顯示器的前面。圖形生成器或Microvision的MVRemote用于自動顯示測試圖形，或者如有需要，客戶的系統可以生成圖像。SS445旨在從觀察者的角度對顯示器進行測量，從而更好地表現出實際看到的顯示器性能。可以快速測量幾個觀察者位置，從而*定義顯示。在操作員輸入所需的測試位置（X＆Y或像素坐標）的情況下，測試可以*自動化，并且系統將在這些位置自動查找并運行選定的測試。
產品亮點：
應用范圍：
投影顯示光色性能分析儀-投影儀光學測試系統-影院光色分析系統-SS445 技術參數：
CCD相機
Spectrometer + Goniometer 光譜輻射計+測角儀
Pan & Tilt 位移臺
升級選項：
測試案例:
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