Otsuka QE-2000是一套快速、準確的量子效率測量系統，可以測量粉末、溶液和固體等材料的量子效率，基本消除紫外雜散光的影響，此外，采用半球集成探測器，可實現高靈敏度且消除再激發功能，從而獲得熒光粉的真正特性。可以測量的技術參數包括：量子效率（產率），激發波長依賴性，發射光譜PL激發光譜和EEM（激勵排放矩陣）等。
量子效率測量系統QE2000-量子效率測試儀 產品描述：
量子效率測量系統QE2000-量子效率測試儀 是一套快速、準確的量子效率測量系統，可以測量粉末、溶液和固體等材料的量子效率，基本消除紫外雜散光的影響，此外，采用半球集成探測器，可實現高靈敏度且消除再激發功能，從而獲得熒光粉的真正特性。可以測量的技術參數包括：量子效率（產率），激發波長依賴性，發射光譜PL激發光譜和EEM（激勵排放矩陣）等。
工作原理：
QE-2000配備了集成半球的系統，具有各種*功能。優化的幾何形狀可將非發射性零件定位在外部，從而使自吸收效應小化，鏡面照度約比現有的積分（全）球面高出兩倍，還可輕松進行細胞裝卸，以減少損壞球體內部的風險。QE-2000具有“真性”的再勵消除功能。在包含再激勵發射的條件下，不能獲得真實的特性，因為其中包含了設備特性。利用積分球半球的優勢，QE-2000可以使用消除再激勵功能，熒光粉樣品反射的激發光將在球體中進行漫反射，并且反射的激發光將再次采樣，從而進行精確測量。與現有發出大量雜散光的探測器不同，Otsuka新發明了一種雜散光消除解決方案，用于QE-2000的陣列光譜儀的雜散光是現有模型的1/5（橙色光譜），可*地減少紫外線區域的雜散光。
量子效率測量系統QE2000-量子效率測試儀 產品亮點：
應用范圍：
升級選項：
技術參數：
測量參數
激發光源
積分球
樣品固定治具
功耗
軟件
測量流程：
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