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DU416 高性能光譜CCD

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英國Andor公司*新推出的416系列光譜CCD 在保持BRDD (Deep Depletion)CCD近紅外效率的同時,將暗噪聲降低了一個數量級。很好的解決了近紅外量子效率與噪聲的矛盾。DU416將成為近紅外拉曼、光致發光的理想探測器。CCD采用TE制冷,使用更加方便,卻可以得到和液氮制冷相當的暗噪聲。
 
 主要特點:
1、     近紅外光譜范圍內具有*高信噪比,非常適用于拉曼實驗。
2、     量子效率>80%@600nm—900nm;
3、     像素大小:15umX15um,光譜測試,可得到優質光譜分辨率;
4、     成像靶面為30mmX3.8mm具有很寬的一次性攝譜范圍;
5、     TE制冷溫度:-95°C,暗噪聲0.0006e-/s/pixel
6、     標配Fringe suppression技術,進一步降低背感光CCD近紅外的干涉效應
7、     USB2.0接口,即擦即用。

主要技術參數:
型號DV416A-LDC-DDDU416A-LDC-DD
 
芯片類型
LDC-DD: 背感光深耗盡CCD,低噪聲,帶有anti-fringing鍍膜(消除干涉條紋)
有效像素2000 x 256
像素尺寸15 x 15 μm
探測面尺寸30 x 3.8 mm with * fill factor
*低制冷溫度
 風扇散熱
16度循環水散熱
10度循環水散熱
 
-55ºC
-65ºC
-70ºC
 
-80ºC
-90ºC
-95ºC
*大光譜速度每秒30 (Full Vertical Binning)
 光窗類型單石英窗口, 1o wedge, 雙面放反射鍍膜(900nm)
CCD芯片級別1級芯片


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