日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 深圳華普通用科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/12/4 16:52:42
- 訪問次數(shù) 239
參考價 | 面議 |
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環(huán)境下的即時測量系統(tǒng)
分光光譜儀種類
MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點膜厚測量
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: