一.概述：
四探針法，可測微歐到兆歐方阻值量程，采用AD芯片控制，恒流輸出， PC軟件運行，自動數據測量和系數修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導率數據；中文或英文語言版本；具有屏蔽功能；參考美國 A.S.T.M 標準。單晶硅物理測試方法
FT-3671系列全量程四探針測試儀
二.適用范圍：
1.導電性新材料、鋁箔、銅箔、鋁涂層、碳纖維材料、電極材料；
2.一般的涂層材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大學、研究所、R&D部門對新材料寬量程電阻率或電導性能研究使用.
三.參數資料：
規格型號 | FT-3671A經濟型 | FT-3671B自動型 |
1.方塊電阻范圍 | 10^6～2×10^7Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^7～2×10^8Ω-cm |
3.測試電流范圍 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA |
4.電流精度 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA ,10nA , 1nA±2% |
5.電阻精度 | 10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; |
6.PC軟件界面操作 | PC軟件界面顯示：電阻、電阻率、方阻、電導率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、過程圖譜，報表生成. |
7.測試方式 | 手動測量 | 自動測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<100W |
9.誤差 | 小量程≤4%（標準樣片結果）;大量程≤10% |
10.校準方式 | 標準電阻和標準樣片 |
11.測試探頭 | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規格; 探針材質選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 |
