AXXIS® AT30型電解測厚儀是庫侖測厚技術的革命，超越傳統的測厚儀器，成為覆層厚度、性能的綜合測試儀器。

AXXIS® AT30型電解測厚儀是庫侖測厚技術的革命，超越傳統的測厚儀器，成為覆層厚度、性能的綜合測試儀器。

電解測厚儀主要特點：

1. 測量數據數字化儲存、圖形顯示、準確、直觀、測量精度高。

2. 超過三十種以上的可測量鍍層，以及所有導電性鍍層。

3. 絲狀線材和其他異型底材鍍層。

4. 實時動態顯示電位變化曲線，可以識別和測量合金層或其他中間層。

5. 自動詳細分析多層鎳等類似鍍層的電位差值及厚度，評價其耐腐蝕性能。

6. 測量多層鎳無需三電極系統，不用X-Y記錄儀，儀器更可靠，使用更方便。

7. 能分辨不同成分的鍍層，評價鍍層的均勻性，進而判定鍍液的狀況、添加劑的性能。

8. 監視測量是否準確，詳細分析測量數據，選擇打印測量曲線和標準格式報告。

9. 測量數據便于*保存，隨時調用，可以利用其他軟件進行數據處理。

10. 操作簡便、迅速，無需記憶測量種類代碼等，儀器可以自行檢定。

11. 軟件免費升級，測量鍍層種類不斷增加。

12. 根據用戶要求定制軟件或增加特別硬件。

電解測厚儀新增功能：

1. 自動識別計算機操作系統，無須手動選取。自動識別可用的通訊接口。

2. 可以選擇公制或英制單位，超小量程可測量超薄鍍金和其他超薄鍍層。

3. 可通過USB接口聯接，LED指示USB和RS232聯接狀態和工作狀態。

4. 虛擬數碼管面板，無需再觀察儀器數碼顯示，操作更方便。

5. 手動設置電流、電位、系數等參數，解決了因環境溫度、電鍍工藝及添加劑的變化導致的無法測量或測量不準確，便于生產和科研使用。

6. 1mm小直徑測量頭，可測量小型工件。

7. 免費為您增加一臺0-5V量程電腦X-Y記錄儀，數據記錄、處理便利。（儀器作為記錄儀）

測量范圍和精度：0.01um~50（100）um，≤±10%

符合ISO2177-2003、GB/T4955-1997、ASTM B504-90（2002）、B764-94（2003）（STEP）和國家標準。