ContourGT系列結合*的64-bit,多核操作和分析軟件，白色光源干涉測量（WLI）硬件和*的操作簡易性，展現出歷史以來的3D光學表面輪廓儀系統。第十代光學表面輪廓儀提供了超大視野埃米至毫米垂直范圍計量，樣品靈活安裝和*可重復等性能。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中，zui廣泛使用和zui直觀的3D表面計量平臺。

利用超過業界zui大視野zui高垂直分辨率，達到的測量性能

■    從0.5倍到200倍的放大率能夠表示大范圍樣品表面形狀與結構特征

■    任意放大率下亞埃米到毫米垂直范圍能提供的測量靈活性

■    高分辨率相機選項提高橫向分辨率，增加R&R測量性能

運用Vision64™軟件的64-Bit, 多核處理器可加速3D表面測量和分析

■    型結構產量功能可大幅增加應用數據處理能力

■    運用多核優化和其他技術的并行處理功能，可以提供高達10倍的判斷性計量分析輸出量

■    的拼接性能無間斷地將大量單獨數據綜合設置成一個連續圖像

生產環境中提高可靠性和可重復性的*計量硬件

■    超高亮度LED雙源照明系統提供的測量質量放大率撓度

■    優化硬件設計可提供震動偏差R&R測量

■    選擇模式中自動化自校準功能可獲得工具間相關性和測量準確可靠性

     高度直觀用戶平臺，擁有zui*易用性，自動化和分析能力

■    簡易高效用戶界面簡化測量與數據采集操作，提高人機工作效率

■    *可視工作流程工具可直觀獲得過濾和分析選項擴展庫

■    為客戶具體要求設置客戶報告提煉分析數據功能