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DL10-1934B 數(shù)字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 北京北信未來電子科技中心
  • 品牌
  • 型號 DL10-1934B
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2016/1/1 13:00:01
  • 訪問次數(shù) 331

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測量范圍

電阻率:10-2~102Ω-cm;

方塊電阻:10-1~103Ω/□;

電阻:10-3~9999Ω

詳細信息 在線詢價

數(shù)字式四探針測試計   四探針測試計  半導體四探針檢測儀   

型號:DL10-1934B

測量范圍 

電阻率:10-2102Ω-cm

方塊電阻:10-1103Ω/□;

電阻:10-39999Ω 

可測半導體材料尺寸 

直徑:Φ15100mm; 

長(或高)度: ≤400mm 

外形尺寸 

主機 170mmD)×130 mmW)×50mmH) 

電源 

功 耗:<1W; 

電源適配器:

輸入:220V±10% 50Hz; 

輸出:DC5V±10% 


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