午夜福利视频-国产国拍亚洲精品AV在线-少妇人妻综合久久中文字幕-哔哩哔哩漫画破解版永久免费


免費(fèi)注冊(cè)快速求購


分享
舉報(bào) 評(píng)價(jià)

NanoMap-D 三維表面輪廓儀,三維輪廓儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 aep technology中國辦事處
  • 品牌
  • 型號(hào) NanoMap-D
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2016/1/3 13:00:00
  • 訪問次數(shù) 1457

該廠商其他產(chǎn)品

我也要出現(xiàn)在這里

NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計(jì)量型設(shè)備既可以
用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面
4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測量
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

 

NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計(jì)量型設(shè)備。既可以
用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。 
1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等 
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等 
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 
4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測量 
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量 
6、微電子表面分析和MEMS表征

主要特點(diǎn):

高精度 
· 的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式2 nm(光學(xué)非接觸式) 
· 對(duì)周圍環(huán)境和光源的強(qiáng)適應(yīng)性 
· 沒有機(jī)械過濾 
寬闊的垂直測量范圍 
· 多種選擇光學(xué)頭及接觸式 
· 縱向掃描范圍 300 to 3900 μm 
· 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi) 
試用于幾乎所有的表面 
· 透明,不透明,反射光強(qiáng)等多種材料 
· 垂直臺(tái)階,高寬深比,隆起,孔洞 
· 脆性的材料,軟材料,柔性材料表面 
· 尖銳的,堅(jiān)硬的,磨損的表面 
適應(yīng)性強(qiáng) 
· 白光光源,人體安全設(shè)計(jì),長壽命白光LED 免維護(hù)。可以用于各種環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室,甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。 
· 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的*結(jié)合 
· 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長程掃描范圍到50mm 
· 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 
· 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器,同時(shí)擁有寬闊測量動(dòng)態(tài)范圍(zui大至500μm)及亞納米級(jí)垂直分辨率 (zui小0.nm  
· 軟件設(shè)置恒定微力接觸(0.1 to 100 [mg])

 

關(guān)鍵詞:三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺(tái)階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式式臺(tái)階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺(tái)階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺(tái)階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀、

 

aep Technology

+86-

+86-

+86-

公司:

 


同類產(chǎn)品推薦


提示

×

*您想獲取產(chǎn)品的資料:

以上可多選,勾選其他,可自行輸入要求

個(gè)人信息: