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簡介：ZetaFinderZF400高濃度Zeta電位分析儀該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室...

簡介：NICOMP380系列納米粒徑與電位分析儀是專門用于測量納米級顆粒以及膠體樣品體系的先進粒徑分析儀器，其測量范圍為0.3nm-10μm。儀器所擁有*的基線調整自動補償能力和高分辨率多模式算法，多年...

簡介：Zeta電位儀-惟一通過“并行測量”技術同步獲得粒徑與Zeta電位數據的分析儀。-惟一以“多角度測量”分析Zeta電位的技術（MP-PALS）。-*的“DelsaMaxASSIST”（選配項）輔助...

簡介：目前能測量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少。而應用電泳光散射的方法，測量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫爾特公司上市的DelsaNano系列如電泳光散射固體及薄膜Zeta電位...

簡介：固體表面Zeta電位/流動電流電勢分析儀，SurPASS3固體電運動分析儀/固體表面Zeta電位儀幫助科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性，設計新型、特定性質的材料，如聚合物、紡織、陶...

簡介：SurPASS固體表面Zeta電位分析儀，在表面分析中，固體表面Zeta電位分析儀SurPASS3基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面Zeta電位。它可以提供有關表面電荷和相關性質的...

簡介：多角度Zeta電位及納米粒徑同步分析儀，動態光散射、電泳光散射，MP-PALS多角度相位分析，多角度Zeta電位分析（MP-PALS多角度相位分析）；其中31個探測器同時收集相位遷移信號，分析Ze...

簡介：靜態分子量與納米粒度同步分析儀，惟一通過“并行分析”技術同步獲得粒徑與靜態分子量數據的分析儀。惟一同時應用靜態光散射與動態光散射的分析儀，采用“并行分析”技術：同時具備兩套探測系統，一次加樣即可同...

簡介：zeta電位儀（顆粒表征），NanoPlus納米粒度與zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可...

簡介：Zeta電位分析儀，通過單次測試即可在整個動態范圍內獲取更多的樣品信息，節省時間。深入研究獲取的數據，可提高產率，優化流程，開發潛能，更高的靈敏度，提高了原始數據的質量和結果的準確性。