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上海蔡康光學儀器有限公司

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太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C

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  • 上海蔡康光學儀器有限公司
  • 2024-05-29 17:31:11
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【簡單介紹】

DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡,選用優質的光學元件,配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡,是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的,作為工業金相顯微鏡使用。

【詳細說明】

 太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途: 
          DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡,選用優質的光學元件,配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡,是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的,作為高級工業金相顯微鏡使用??蛇M行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統配置了優質無限遠光路系統、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數字攝像頭及圖像測量管理軟件,可對太陽能電池板圖像進行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。

性能特點:

1、采用了較的光學顯微鏡與現代成像分析融為一體的圖像測量技術。

2、可對太陽能電池硅片進行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。

3、系統配置了優質無限遠光路系統、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡

4、可以測量太陽能電池片裂紋長度,崩邊長度角度,印刷位移角度偏差

5、可以測量主、副柵線,背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線

   到電池邊的距離,柵線、斷線長度,斷線缺損和變色的面積

6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑,裂紋,崩邊,掉

   角缺口,印刷偏移主副柵線、背電極的斷線,缺損,扭曲,變色等現象。

7、可對雜質、殘留物成分進行分析。雜質包括: 顆粒、有機雜質、無機雜

   質、金屬離子、硅粉粉塵等。





。

 

二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術參數:

型號

技術規格

目鏡筒

鉸鏈式三目鏡,傾斜30?,內置檢偏振片,可進行切換 ;瞳距調節范圍 55-75mm,屈光度±5可調。

目鏡

WF10X(Φ22mm)

物鏡

無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL 5X/0.12            工作距離:26.3mm

無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25          工作距離:20.2mm

無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L40X/0.60(彈簧) 工作距離:3.98 mm

無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L60X/0.70(彈簧) 工作距離:3.18 mm

無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L100X/0.85(彈簧) 工作距離:0.40 mm

落射照明系統

6V 30W鹵素燈,亮度可調

落射照明器帶 (黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃

視場光欄和孔徑光欄大小可調節,可插入式起偏振片,可進行偏光觀察和攝影

透射照明系統

阿貝聚光鏡  NA.1.25  可上下升降 。藍濾色片和磨砂玻璃 

集光器,鹵素燈照明適用(內置視場光欄) ,6V 30W 鹵素燈,亮度可調

調焦機構

粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

轉換器

五孔(內向式滾珠內定位)

載物臺

雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)

電腦攝像系統

 

1X攝影接口,標準C接口,

CK-500數字攝像系統,分辨率:2592X1944, 芯片尺寸:1/2.5", USB2.0連接,  圖像質量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩定,有多種圖像處理方式(詳細參數見CK-500攝像機介紹) 

測量軟件功能:

1、可進行圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB顏色等多種處理方法。

2、當前圖像放大、縮小、剪切、背景等設置。

3、對圖像中的點、線、圓、圓弧、角度、矩形及任何圖形幾何參數的測量。測量工具使用方便直觀。是顯微圖像測量與分析的有效工具。


三、系統的組成  


1、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300       2、電腦適配鏡 

3、彩色數字攝像機CK-500            4、計算機(選購)  

    
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