金相顯微鏡用于金相分析。一般來說有一下幾個種類。
1、正置式金相顯微鏡——便于選取視場(制樣要雙面平整)
2、倒置式金相顯微鏡——方便,樣品底部要求不高
3、體式顯微鏡——斷口、宏觀檢驗
4、現場金相顯微鏡——用于測量大型無法制作的試樣的試驗
金相顯微鏡視功能分為:明場、暗場、偏光、微分干涉DIC等觀察方式。
下面我們來介紹一下幾種觀察方式的用途:
明場:利用照明光線直接照射到被測樣品表面反射回來觀察。的觀察方法,試樣表面略有不平無陰影,能較真實的顯示各種不同的組織形貌。場是所有的金相顯微鏡都具備的功能,常規金相一般都是用明場的方式來觀察。
暗場: 利用丁道爾現象所產生的光衍射/繞射,用斜射照明的方式觀察被測試樣,可看到明場看不到的物質。可以鑒別非金屬夾雜物。
偏光:利用偏光鏡片的單向振動性,在垂直正交時可對具有雙折射性的物質進行定性檢查。適用于地質巖相和晶體性夾雜物判別。 各向同性晶體與各向異性的相的區分;區別各向同性但腐蝕程度不同的相;根據不同取向的晶粒的振動面旋轉角不同,明暗程度不同,區別精細組織結構如孿晶、晶界等;夾雜物檢驗。
微分干涉(DIC):1952年,Nomarski在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉差顯微鏡(differential interference contrast microscope),利用直線偏振光經過諾馬斯基棱鏡后的干涉現象,觀察樣品表面凹凸,其優點是影像的立體感更強,使某些組織的觀察大為改善。如晶界上析出的碳化物等。
明場觀察 偏光觀察
暗場觀察 DIC觀察
免責聲明
- 凡本網注明“來源:儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。
2025廣州國際分析測試及實驗室設備展覽會暨技術研討會
展會城市:廣州市展會時間:2025-03-05