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方塊電阻測試儀由于測量精確，所以被很多人群喜愛，但是人們卻對它了解不多，因此下面小編就來為您講解方塊電阻測試儀的四探針法功能。
方塊電阻的計算方式
方塊電阻又被稱為膜電阻，是用以間接地表現薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等試品上的真空鍍膜的熱紅外特性的檢測值，該數值的大小可直接計算為熱紅外輻射率。
方塊電阻的計算方式：
方塊電阻：Rs=ρ/t（當中ρ為塊材的電阻，t為塊材薄厚）
或是寫出電導率的關系式：Rs=1/（σt）
那樣在算塊材電阻的情況下，大家就可以運用方塊電阻乘于寬和長比率獲得，計算流程與維度沒有關系：
R=Rs*L/W（L為塊材總長度，W為塊材凈寬）
方塊電阻測試儀是用于檢測半導體器件（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻，及其擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的檢測儀器。大顯示屏，直觀性度數，穩定性能好，能夠外接其它操控單元，與其它信息系統集成應用;主要用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱保溫、導電窗膜等。
方阻檢測新品為薄膜檢測給予機械、電氣兩層面的維護，在寬闊的量程范疇內，使各類電子薄膜能獲得精確、無損的方塊電阻檢測結果。
因此新式薄膜原材料品種繁雜，研發流程中試品特性轉變比較大，而且各類薄膜的機械強度，容許承擔的電壓、電均不一樣，因而測試儀能為用戶量身定做各類定探針壓力及曲率半徑的探針頭，檢測電壓和檢測電均可持續調整，給薄膜、涂層的研制者給予了個摸索檢測條件的寬闊空間。
因此方塊電阻測試儀設立恒源開關，而且全部電檔在探針與試品觸碰后均有電連接的作用，充分維護了試品表層并不會因此探針觸碰時造成的電火花而遭受毀壞
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