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　　四探針測試儀雖然很多工廠經常使用，但是真正了解它的人卻不多，因此下面我們就一起來了解一下四探針測試儀在半導體行業的應用，希望對您了解該產品有幫助。

　　材質分類：

　　現階段大家相對比較了解的薄膜半導體材質具體有下面這一些：依據材質自身的用處和性質區分。

　　覆蓋膜;導電性高分子膜，高、超低溫電熱膜;

　　隔熱保溫、導電性窗膜導電性（屏蔽掉）布、裝飾膜、裝飾紙;

　　金屬化標識、合金材料類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂敷、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;

　　導電性薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等材質的薄層。

　　四探針測試儀材質性能：

　　靠電子和空穴二種載流子完成導電性，室內溫度時電阻率一般在10-5——107歐?米相互之間。一般電阻率隨溫度上升而轉變;若摻加活性殘渣或用光、射線輻照，可讓其電阻率有好幾個數量級的轉變。

　　半導體材質的導電性對外部標準（如熱、光、電、磁等要素）的轉變十分敏感，由此能夠生產制造各種各樣敏感元件，用以信息變換。半導體材質的性能主要參數有禁帶寬度、電阻率、載流子遷移率、非平衡載流子使用壽命和位錯相對密度。

　　以上就是為您講解的四探針測試儀在半導體行業的應用，相信大家都了解了。由于該產品比較復雜，所以您如果還有什么問題，可以隨時咨詢我們。