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　　人們雖然知道方塊電阻測試儀，但是對于它的功能了解多少呢？為了方便各位了解的更多，下面就由小編來為您詳解一下方塊電阻測試儀的功能。

　　方塊電阻的計算方式

　　方塊電阻又被稱為膜電阻，是用作間接性表現(xiàn)薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等試品上的真空鍍膜的熱紅外性能的檢測值，該數(shù)據(jù)的大小可直接的計算為熱紅外輻射率。

　　方塊電阻的計算方式：

　　方塊電阻：Rs=ρ/t（當中ρ為塊材的電阻，t為塊材薄厚）

　　或是寫出電導率的關(guān)系式：Rs=1/（σt）

　　那樣在算塊材電阻的情況下，大家就可以運用方塊電阻乘于長寬占比獲得，計算流程與維度不相干：

　　R=Rs*L/W（L為塊材總長度，W為塊材總寬）

　　方塊電阻測試儀是用于檢測半導體器件（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻，及其擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的檢測儀器。大顯示器，直觀度數(shù)，穩(wěn)定性能好，能夠外接別的調(diào)整單元，與別的信息系統(tǒng)集成應用;主要用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱保溫、導電窗膜等。

　　方阻檢測新產(chǎn)品為薄膜檢測給予機械、電氣兩層面的維護，在寬闊的量程范疇內(nèi)，使各類電子薄膜能獲得精確、無損的方塊電阻檢測效果。

　　由于新型薄膜原材料類型多樣，研發(fā)流程中試品性能轉(zhuǎn)變 很大，而且各類薄膜的機械強度，容許承擔的電壓、電均不一樣，因而測試儀可以為用戶量身定做各類定探針壓力及曲率半徑的探針頭，檢測電壓和檢測電均可持續(xù)調(diào)整，給薄膜、涂層的研制者給予了個探索檢測標準的寬闊空間。

　　由于方塊電阻測試儀設(shè)立開關(guān)，而且全部電檔在探針與試品觸碰后均有電接通的作用，充分維護了試品表層并不會由于探針觸碰時造成的電火花而遭受毀壞。