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梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數據處理、計算和報告,具有 LabX 軟件的天平可以輕松實現過程安全性和可追溯性要求,并支持您實現無紙化實驗室。超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術與數十年的稱量專業知識相結合,確保您快速、可靠地獲得*的稱量結果!
梅特勒XPE分析天平規格參數
產品 | 量程 | 可讀性 | zui小稱量值 (USP),典型值 | 重復性 | 線性誤差(典型值)± | ||
---|---|---|---|---|---|---|---|
XPE 105 分析天平
| 120.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg | ||
XPE204
| 220.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.05 mg | 0.2 mg | ||
XPE205
| 220.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg | ||
XPE205DR
| 81.0 g; 220.0 g | 0.01 mg; 0.1 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.15 mg | ||
XPE504
| 520.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.08 mg | 0.4 mg |
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