賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀（原美國熱電）（ED XRF）儀器介紹
＊端窗超高通量RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻
＊先進的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器
＊賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀（原美國熱電）（ED XRF）擁有全數字化譜分析器 32bit 4096通道
＊高穩定性：RSD<0.3% 8小時
＊賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀（原美國熱電）（ED XRF）檢測元素：F~U
賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀（原美國熱電）（ED XRF）技術參數
樣品室：樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm
單位盤 樣品可大至樣品室大小
10位盤(選購件) 帶自轉機構，樣品可大至47mm
20位盤(選購件) 樣品可大至31mm
自動和手動盤 為特種樣品的樣品盤，選購件
環境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件)
激發（核心元件）：
X-光管：超高通量，端窗，RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻，其它靶可選
X-光發生器 4-50KV，1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔
濾光片 7種濾光片加1空位，自動選擇
準直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種
X射線檢測配置器（核心元件）
類型：Si(Li)硅鋰
晶體面積：
Si(Li)面積15mm²，分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面積30mm²，分辨率<149 eV
晶體厚度： 3.5mm
檢測元素：F~U
制冷方式：電致冷/液氮致冷
穩定性：RSD<0.3% 8小時
靈敏度：Fe, Pb <3pmm（油）
再現性：RSD<0.3%/1x10負6次方計數
譜處理器（核心元件）
處理器類型：全數字話 32bit 3 DSP
譜通道：2048 20eV/通道
修正時間：1~40ms, 用戶選擇
計數率：>100,000cps (live)
能量范圍：400~4096eV
死時間影響：<3.0%
重疊校正：<0.3%
能量校正：軟件自動
尺寸和重量
外形尺寸 寬71.88cm，高41.15cm，深59.18cm
重量 90.7kg
使用要求
電源 100、115或230VAC,50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W
遙控診斷和遙控監測需要通過因特網連線
環境要求
溫度 O～32℃
濕度 20～80％RH(無冷凝水)
