高分辨率小信號測量和空間繪圖需要光學恒溫器的機械穩定性在實驗進行時超過光路的空間分辨率。MicrostatHiResII是真空進樣的連續流低溫恒溫器，它可以在變溫和恒溫條件下都保持極低的樣品振動和漂移量。這個低溫恒溫腔的高機械穩定性使它成為進行半導體微結構的微米量級顯微喇曼和顯微光致發光研究的理想載體。

　　儀器簡介：

　　高分辨率小信號測量和空間繪圖需要光學恒溫器的機械穩定性在實驗進行時超過光路的空間分辨率。MicrostatHiResII是真空進樣的連續流低溫恒溫器，它可以在變溫和恒溫條件下都保持極低的樣品振動和漂移量。這個低溫恒溫腔的高機械穩定性使它成為進行半導體微結構的微米量級顯微喇曼和顯微光致發光研究的理想載體。

　　技術參數：

　　標準參數：

　　冷卻介質： 液氦（也可以用液氮）

　　操作溫度：2.7K -500K

　　基托溫度：GF4泵3.2K， EPS泵 2.7K

　　溫度穩定性： +/-0.1K

　　液氦消耗量： <0.75Lhr-1 （4.2K）

　　冷卻時間：使用冷凝脈沖冷頭時，從周圍環境到4.2K約15mins

　　常溫下樣品架橫向漂移： 4.2K下1.5小時穩定后 每小時0.15mm 漂移

　　變溫下樣品架橫向漂移：300K冷卻到120K，4μm

　　120K冷卻到 30K，6μm

　　30K冷卻到4.2K ，3μm

　　樣品架振動 <20nm

　　? 樣品工作距離：從樣品架表面到窗口外表面，

　　? 對于0.5 mm厚窗口2.2 mm

　　? 對于1.5 mm厚窗口3.2mm

　　標準溫度探測器： 三點校準銠離子探測器

　　換樣時間： 1hr

　　重量1.5Kg

　　主要特點：

　　特點： 高度機械集成—提供了可以連續保持數小時的低樣品振動和位移。.

　　極短的光學工作距離：--可以很容易的與顯微鏡物鏡相匹配，在4.2K的低溫下達到亞微米級的空間分辨率

　　頂部邊緣可以調節：當研究不同厚度的樣品區域時，可以在使用zui大倍光學鏡頭時也無需改變樣品托。

　　2.7K到500K的變溫范圍。在變溫和恒溫時都保持高分辨率。