為了滿足高分子領域的研究員對AFM快速高分辨的掃描以及定量的納米力學性能測試等方面日益增長的需求，牛津儀器Asylum Research發布 Cypher™ ES 高分子版原子力顯微鏡。新一代Cypher™ ES 高分子版原子力顯微鏡針對高分子領域的研究進行了優化，能夠提供*分辨率的成像，快速掃描，精確的溫控以及相當全面的納米力學表征模式。Cypher™ ES 高分子版是眾多高分子和材料科學應用領域的理想工具，例如，表面形貌成像，測量力曲線，納米力學成像，熱學性能測試，觀測溶液以及熱作用下的動力學過程，探測電學和功能行為特性。并且在目前特定的時間段內，Cypher ES高分子版將享有非常優惠的價格和超短的發貨周期。
銷售總監John Grenn說：“Asylum Research創新性的納米力學掃描模式和環境控制能力使得Cypher ES高分子版能夠滿足高分子領域研究者的特別需求。Asylum Research是*能夠提供高分辨的成像和對材料粘彈性進行定量成像的原子力顯微鏡生產商。聚合物本質上都有明顯的粘彈性，因此這對聚合物的科學家來說是一項必需的功能。利用Cypher ES聚合物版原子力顯微鏡，聚合物研究者如今可以在一個系統中利用多種強大的工具進行高效地操作，獲得定量的數據和相關結果。
Cypher ES Polymer 聚合物版包括三種*的納米力學表征技術。兩種AFM技術，AM-FM和接觸共振粘彈性成像技術能夠高分辨并且定量的對彈性模量和粘彈性響應（也就是損耗模量和損耗因子等）。第三種技術 ，快速力譜成像技術，能夠進行定量的高速彈性模量成像。與其它的力譜技術不同，Asylum的快速力譜成像技術記錄成像過程中的每一條力曲線，測量形變型號和Z閉環傳感器的信號，其不但支持常規的縮進模型，例如 Hertz, Sneddon 以及DMT等力學模型，而且還支持更多*的力學模型，包括JKR 以及Oliver-Pharr。
此外， Cypher ES 聚合物版提供結合環境控制的*分辨率的快速掃描。系統中包含一個全密封的高溫樣品加熱臺，與系統無縫對接，不需要任何外加的線纜、管道以及控制器等。利用該加熱臺能夠在室溫至250°C范圍內無干擾的探測聚合物的相轉變過程。zui終，該系統還包括Asylum *的blueDrive光熱激發模塊，其能夠讓輕敲模式更簡單，更穩定和更準確。
對AFM在聚合物中應用感興趣的研究者可以從上找到眾多的應用手冊，研討會以及實際的樣品成像資料等：www.oxford-instruments。。ｃｏｍ/afm-polymers
以下圖像為：從室溫加熱到135°C，冷卻之后Cypher ES 聚合物版AFM 對syndiotactic polypropylene (sPP) 和polystyrene (PS)樣品的成像。圓形獨立的區域是 PS ，周圍連續的介質是 sPP。掃描范圍3 μm。
