1、儀器性能特點F-2000是我公司自主研發生產的能量色散型X熒光光譜儀,方便快捷的對多種形態樣品中的元素進行快速無損分析(包括對鐵基、鎳基、鈦基、鈷基、銅基等金屬材料中元素含量的檢測均可實現)
1、 儀器性能特點
F-2000是我公司自主研發生產的能量色散型X熒光光譜儀,方便快捷的對多種形態樣品中的元素進行快速無損分析(包括對鐵基、鎳基、鈦基、鈷基、銅基等金屬材料中元素含量的檢測均可實現)。
F-2000性能特點 | |
測定元素
| Si-PIN探測器:鈦元素—鈾元素
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樣品形態
| 固體、液體、粉末樣品均可直接檢測
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操作特點
| 一鍵式設計,操作界面簡單
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安全性能
| 多層保護,避免X射線對人體的輻射傷害
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2、主要技術指標
F-2000主要技術指標包括:探測器、一體化X射線發生器
(1)探測器
F-2000選用了Si-PIN探測器,用戶可根據自己的實際需要來選購。
探測器 Detector | |
類型 |
Si-PIN探測器 |
典型分辨率
| 145ev |
輸出計數率
| 30kcps |
峰背比
| >6200 |
(2)一體化X射線發生器
一體化X射線發生器
| |
輸入電壓
| 9—11VDC |
輸入電流
| 0.5A |
輸出電壓
| 50Kv,200uA |
功率
| 4W |
穩定性
| 8小時0.2%
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3、光譜分析系統控制和數據處理系統
(1)32位模/數轉換器
(2)3.5寸高清顯示器
(3)Atom Z510 1.1GHz處理器,1G內存
(4)8G工業級(PQI) CF卡,可以存儲更多數據
(5)自定義的XPE操作系統,用戶使用更方便
(6)一鍵式設計,測量停止只需點擊一下按鈕
(7)結果、譜圖兩種模式自由切換。結果模式測量數據每秒更新,可據數據的穩定程度隨時終止測量
(8)高容量聚合物鋰離子電池,可以連續使用6小時
(9)預留USB接口
4、應用領域
適用于金屬合金分析、廢舊金屬回收、合金材料鑒別(PMI)、生產制造控制等領域。
5、 尺寸規格
長*寬*高:260mm*95mm*280mm
重量:約1.8kg
6、 工作環境
--溫度范圍:-10℃—40℃。
--相對濕度:≤80%
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