產品概述科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現暗場和微分干涉等特殊觀察

產品概述

科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現暗場和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金屬、巖礦內部結構組織的鑒定和分析，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領域。是金屬學、礦物學、工程學研究的理想儀器。總放大倍數：50-800X

科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C性能特點：

1、采用了的無限遠光學系統設計，提供了優良的光學系統。

2、整機了采用防霉處理，保護了光學元件延長了儀器使用壽命。

3、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡配置，視場平坦。

4、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置，拓展了功能。

5、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。

科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C典型應用：

1、鑒定和分析金屬內部結構組織。

2、電子工廠PCB板檢驗。

2、觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻。