良好的渦流點式探頭設計和適宜的探頭結構形式能使原本不易探測的缺陷信號得以增強，使之易于被發覺。上海倉信電子科技有限公司憑借多年的探頭制作經驗，精心設計和嚴格質量控制體系，提供各種類型優良性能的渦流檢測探頭，能適應各種不同型號渦流儀使用。當選擇ET系列渦流儀和與之相配的探頭，可以得到合適匹配性能和合適的檢測靈敏度。

　　經分析研究，影響渦流點式探頭式線圈檢測靈敏度的因素主要有以下三點：

　　1）提離和缺陷埋藏深度對靈敏度的影響：當探頭的提離間隙增大時，線圈和工件之間的互感減小，工件中的磁通密度減小，缺陷檢出靈敏度降低。線圈直徑不同，磁通密度隨提離的變化不一樣，導致檢測靈敏度也不一樣。點探頭直徑越小，靈敏度隨提離下降越快。距離工件表面越深，磁通密度越小，檢出缺陷的靈敏度也越低。

　　2）尺寸對靈敏度的影響：渦流的流動局限于點探頭磁場變化的區域，區域的大小是線圈尺寸和幾何形狀的函數。對于式檢測線圈，缺陷靈敏度反比于線圈直徑。

　　3）檢測頻率對靈敏度的影響：在使用渦流點探頭式線圈探傷之前，應弄清缺陷的類型，大小，取向以及埋藏深度。一般來說，使用一種形式的探頭和一種檢測頻率，難于發現所有類型，大小，取向和埋藏深度的缺陷。而檢測頻率的選擇對靈敏度的影響非常重要。

　　選擇工作頻率的原則是要使缺陷和其他變化因素易于分辨。因為檢測中zui頭痛的干擾是提離效應，所以缺陷和提離的區分是主要考慮因素之一。在選擇檢測頻率時，應使滲透深度等于被檢缺陷的埋藏深度，這樣才能在提離和缺陷之間得到良好的相位分離。如果在檢測時發現信號難以判斷，分不清是由缺陷還是由其他變化引起的，可以通過改變檢測頻率進行判斷。