三. 15J測量顯微鏡測量工作臺讀數裝置主要規格：

1. X軸移動范圍：50mm。

2. Y軸移動范圍：13mm。

3. 測微器分度值：0.01mm。

15J測量顯微鏡
一.15J測量顯微鏡 用途：

     15J測量顯微鏡主要應用在,直角坐標中測定長感度，如測定孔距，基面距離，刻線寬度，裂縫寬度，通孔外圓直徑等等。轉動度盤測定角度，如對刻度盤，鉆孔模板及幾何形轉狀復雜的零件進行角度測量。用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

二.  15J測量顯微鏡技術規格：

1.   目鏡：10 X，焦距25. 00mm。

2.   物鏡：⑴. 2.5X / 0.08，焦距43. 40mm。⑵. 0X / 0.25，焦距17. 13mm。

3.   放大倍數：

⑴. 25 X，工作距離：58. 84mm，視場直徑：5. 6mm。

⑵. 100 X，工作距離：7. 81mm，視場直徑：1. 4mm。   

三. 15J測量顯微鏡測量工作臺讀數裝置主要規格：

1.  X軸移動范圍：50mm。      

2.  Y軸移動范圍：13mm。

3.  測微器分度值：0.01mm。

4.  測量臺轉動范圍：不限。

5.  測量臺刻度盤分度范圍：0°-360°。

6．測量臺刻度盤之分度值：1°。

7.  測量臺刻度盤游標讀數示值：6′。

8.  測量精度：儀器示值誤差=（5+L /15）mm。

9.  儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。

10. 測量地點溫度變化（20°±3°）L—被測件長度。

11.  顯微鏡目鏡筒與棱鏡成為一體繞垂軸陷旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦。

四. 15J測量顯微鏡儀器主要尺寸：

1.  測量臺與物鏡之間zui大距離：80mm。

2.  測量工作臺直徑：120mm。