上海物光測量顯微鏡WG-15J 商品品牌：上海精科物光

上海物光測量顯微鏡WG-15J的詳細介紹如下：
WG-15J測量顯微鏡
應用范圍：測量潛望鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍及廣。
光學系統規格：

測量工作臺讀數裝置主要規格
X軸遇到測量范圍50nm
Y軸遇到測量范圍13nm
測量器分度值：0.01nm
測量臺轉動范圍不限：NO limit
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游標讀數示值：6’
測量精度：
儀器示值誤差：± （4+L/15）μ m
儀器示值誤差：包括測量誤差和系統誤差
注：測量地點溫度變化20℃ ±3℃，L--被測件長度

圖示：
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