美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經典靜態光散射技術和全程米氏理論處理，利用現代模塊式設計理念，使用獲得的三激光光源技術，配備超大角度雙鏡頭檢測系統，以對數方式排列151個高靈敏度檢測單元，無需掃描，平行通道實時接受散射光信息，提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測量之間的轉換，系統自動識別，方便快捷。

公司介紹：

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上的激光應用技術研究和制造廠商，其的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，等領域，并成為眾多行業*的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創新，近半個世紀以來，一直有著激光粒度分析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務，使得其不斷超越自我，推陳出新，。

儀器簡介：

納米粒度測量——的動態光背散射技術

隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經典動態光散射技術的自相關檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業的先鋒，早在1990年，超細顆粒分析儀器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研發成功，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技術，結合動態光散射理論和的數學處理模型，NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,樣品濃度更可高達百分之四十，基本實現樣品的原位檢測。異相多普勒頻移技術采用可控參考穩定頻率，直接比照因顆粒的布朗運動而產生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度，較之于傳統的自相關技術，信號強度高出幾個數量級。另外，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實現了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音，提高了儀器的分辨率。

測量原理：

粒度測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路

軟件系統：

的Microtrac FLEX軟件提供強大的數據處理能力，包括圖形，數據輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數據，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和*等。

外部環境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環境要求：溫度，10-35°C

標準：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點：

• 采用的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

• 異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。

• 可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

• 快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。

• 膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。

• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。