Thermo Scientific™ Helios™ G4 CX  顯微鏡的創新，結合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業知識，使 Helios G4 CX DualBeam 與可選的 AS&V4 軟件可獲得較高質量、全自動采集的多模態 3D 數據集。結合 Avizo 可視化軟件，它可提供的工作流程解決方案，實現納米級的分辨率、的 3D 表征和分析。

FEI Helios G4 CX

1.納米材料形貌像分析、材料微區域EDS能譜成分分析、EBSD電子背散射衍射晶體取向分析，其廣泛應用于材料、化學化工、機械、生物、醫學等領域。 
2.可用于金屬、半導體、電介質、多層膜結構等固體樣品上制備微納圖形結構。高質量定點TEM樣品制備。離子束刻蝕、離子束沉積；高分辨掃描電鏡功能可對離子束加工試樣進行實時觀測。