新款快速手持式X射線熒光分析儀-X-MET7000eXpress新款X-MET7000eXpress在檢測痕量元素時表現出性能,同時保證分析速度不受影響
新款X-MET7000 eXpress在檢測痕量元素時表現出性能,同時保證分析速度不受影響。X-MET7000 eXpress 使用牛津儀器 40 kV 的X射線光管和高分辨率高計數率硅漂移探測器(SDD)。
我們的新款手持式X射線熒光分析儀擁有以下優勢:
X-MET7000 eXpress 對材料進行分析、鑒定、篩選,其速度比X-MET7000 QuickSort 快4倍。
這款手持式X射線熒光分析儀是廢舊金屬回收、合金材料可靠性鑒定及環境重金屬檢測等行業快速分析的理想工具。
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