產品簡介：用于材料研究的顯微分析系統操作簡便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質量控制和流程控制提供準確和可重復的結果。正置顯微鏡Axio Imager 2具有出色的光學性能和均勻的照明。襯度管理器和光強管理器始終確保定義的條件和可重現的結果。使用ACR自動檢測和配置Axio Imager.Z2m的物鏡和襯度模塊。四種不同的機座供您選擇，通過專門的解決方案可擴展應用：顆粒度分析、關聯顯微分析或共聚焦顯微系統LSM 900。
用于材料研究的顯微分析系統
操作簡便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質量控制和流程控制提供準確和可重復的結果。
正置顯微鏡Axio Imager 2具有出色的光學性能和均勻的照明。襯度管理器和光強管理器始終確保定義的條件和可重現的結果。使用ACR自動檢測和配置Axio Imager.Z2m的物鏡和襯度模塊。
四種不同的機座供您選擇，通過專門的解決方案可擴展應用：顆粒度分析、關聯顯微分析或共聚焦顯微系統LSM 900。
優勢
√ 出色的光學系統，同時滿足高對比度及高分辨率的雙重要求
√ 采用模塊化設計理念，通過一系列用于增強靈活性的電動和編碼組件，實現更高的靈活性
√ 穩定的機座設計和無振動的工作狀態，確保結果的可重復性。
√ 通過蔡司LSM 900激光掃描共聚焦模塊可對Axio Imager 2進行升級
√ Axio Imager 2可用于關聯顯微分析和顆粒度分析
√ 借助其自動化功能，可在質量控制和流程控制中實現結果精準再現。
特點
1：襯度
提供多種技術選擇
掌握研究方向并檢查多種材料?？蓪饘俳Y構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷進行分析?？蓹z查聚合物、液態晶體。
提供多種對比技術選擇，可從中獲得更多信息。使用反射光明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏振光或熒光觀察樣品。使用透射光明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏振光或圓偏振光檢查樣品。
襯度管理器可確保Axio Imager 2照明設置的重復性。
Axioimager 2 MAT -人體工程學
2：人體工程學設計
多元化設計
Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m的觸控屏可顯示關鍵的操作功能，用指尖即可控制所有的電動組件。
額外的控制按鈕人性化地分布在調焦旋鈕附近，通過觸感表面易于區分。
Axio Imager.D2m上配有5個預編程的按鈕，Axio Imager.Z2m上配有10個用戶自定義按鈕。
林肯加熱臺
3：熱顯微分析
靈活記錄溫度變化
您是否希望研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料性能的影響？
通過AxioVision和Linkam加熱載物臺，您可以定義加熱或冷卻實驗。以時間序列方式記錄溫度變化模式。最終獲得每個時序圖像中溫度和真空數據的日志。在加熱或冷卻過程中觀察樣品的變化，例如在質量控制領域。
應用
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