LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡配備的兩套光學系統(彩色成像光學系統和激光共聚焦光學系統)讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。
OLS5000擁有四個關鍵價值
1.捕捉任意表面形狀
2.快速獲得可靠數據
3.使用簡單-只需放好樣品按下按鈕即可
4.測量具有挑戰性的樣品
技術規格
型號 | OLS5000-SAF | OLS5000-SMF | OLS5000-LAF | OLS5000-EAF | OLS5000-EMF | |
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總倍率 | 54x - 17,280x | |||||
視場直徑 | 16um - 5,120um | |||||
測量原理 | 光學系統 | 反射式共聚焦激光掃描激光顯微鏡 反射式共焦激光掃描激光-DIC顯微鏡 彩色 彩色DIC | ||||
光接收元件 | 激光:光電倍增管(2ch) | |||||
高度測量 | 顯示分辨率 | 0.5nm | ||||
Linear scale | 0.78nm | |||||
動態范圍 | 16 bits | |||||
重復性*1 *2 *6 | 10x : 0.1μm, 20x : 0.03μm, 50x : 0.012μm, 100x : 0.012μm | |||||
準確性*1 *3 *6 | 0.15 + L/100μm (L: Measuring length[μm]) | |||||
拼接圖像準確度 *1 *4 *6 | 10x : 5.0+L/100μm, 20x or higher : 1.0+L/100μm (L: Stitching height[μm]) | |||||
測量噪聲*1 *5 *6 | 1nm [Typ] | |||||
寬度測量 | 顯示分辨率 | 1nm | ||||
重復性 *1 *6 | 10x : 0.2μm, 20x:0.05μm, 50x : 0.04μm, 100x : 0.02μm | |||||
準確度*1 *3 *6 | 測量值 +/- 1.5% | |||||
拼接圖像準確度 *1 *3 *6 | 10x : 24+0.5L μm, 20X 15+0.5L μm, 50X 9+0.5L μm, 100X 7+0.5L μm (L: Stitching length[mm]) | |||||
單次測量時測量點的數量 | 4096 x 4096 pixel | |||||
測量點的數量 | 36 Mpixel | |||||
XY 載物臺配置 | 長度測量模塊 | • | 無 | 無 | • | 無 |
工作范圍 | 100 x 100mm Motorized | 100 x 100mm Manual | 300 x 300 mm Motorized | 100 x 100mm Motorized | 100 x 100mm Manual | |
樣品高度 | 100mm | 40mm | 37mm | 210mm | 150mm | |
激光光源 | 波長 | 405nm | ||||
輸出 | 0.95 mW | |||||
激光分類 | 2類 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) | |||||
彩色光源 | 白光 LED | |||||
電氣功率 | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | 240 W | |
質量 | 顯微鏡主體 | 約31 kg | 約 32 kg | 約 50 kg | 約43 kg約 | 44 kg |
控制箱 | 約12 kg |
*1 在 ISO554(1976), JIS Z-8703(1983)規定的恒溫恒濕環境下使用時提供保證 (溫度: 20˚C±1˚C, 濕度: 50%±1%) 。
*2 在使用 MPLAPON LEXT系列物鏡測量時.
*3 在使用專用LEXT物鏡測量時.
*4 在使用20X或更高倍率專用LEXT物鏡測量時.
*5.在使用MPLAPON100XLEXT物鏡測量時的典型值
*6.基于奧林巴斯認證體系保證
4K 掃描技術4K掃描技術可在X軸方向掃描4096像素,是傳統機型的四倍。由此提高了高度測量的可靠性,改善了分辨率,信噪比提升了兩倍。OLS5000顯微鏡無需圖像處理就能檢測幾乎垂直的陡峭斜面和極低的臺階 智能判定功能由于傳統激光顯微鏡采用圖像平滑處理的方式來消除噪聲,有時會將測得的正確的細微高度不規則數據連同噪聲儀器消除。OLS5000顯微鏡采用奧林巴斯自動檢測可靠數據的智能判定算法,可在不丟失細微高度不規則數據的情況下實現精確測量。 其他高分辨率測量技術
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