奧林巴斯DSX510簡介奧林巴斯數碼顯微鏡DSX510
TALL數值孔徑—低像差物鏡
昆山奧巴儀器供應奧林巴斯各類顯微鏡.通過比當前的數碼顯微鏡數值孔徑更TALL、像差更小的物鏡、改進后更均勻的照明光源,DSX510系列光學數碼顯微鏡的成像分辨率可與TALL端的光學顯微鏡媲美。奧林巴斯數碼顯微鏡DSX510的物鏡是工作距離很長的,可觀察TALL度極不平坦的樣品。
IC芯片(物鏡NA 0.4) | IC芯片(物鏡NA 0.8) |
貝氏體鋼(物鏡NA 0.4) | 貝氏體鋼(物鏡NA 0.8) |
BF 明場觀察—— 普遍的顯微鏡觀察方法 | DF 暗場觀察—— 鑒別缺陷的適合方法。 從樣品側面照明以突出瑕疵。 | MIX (BF + DF) 明場+暗場組合觀察—— 同時使用明場和暗場,將明場 觀察的簡便性和暗場觀察對缺 陷的突出效果結合在一起。 | DIC 微分干涉觀察—— 檢查不平坦表面或 納米缺陷的理想之選。 | PO 偏振光觀察—— 消除基板眩光的重要技術, 以精確地呈現樣品的表面特征。 |
液晶平板上的ACF各向異性導電膠 (標準觀察法) | (HDR) |
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